Neue Diagnosesoftware von Samsung Electronics beschleunigt die Entwicklung von ICs mit Strukturen im Nanometerbereich

(Auszug aus der Pressemitteilung)

Schwalbach/Ts., Deutschland, 12. Mai 2005 – Samsung Electronics Co. Ltd.,

Marktführer bei modernsten Halbleitertechnologien, hat eine neue
Diagnosesoftware für Halbleiterprodukte mit Strukturen im Nanometerbereich
entwickelt. Mit dem neuen Softwarepaket lassen sich Fehler, die die Qualität
eines Schaltkreisdesigns beeinträchtigen können, zu einem sehr frühen
Zeitpunkt erkennen. Samsungs Diagnosesoftware mit dem Namen ESCORT
(Estimation of Chip Performance on Process Tolerance) / SRSIM (Samsung
Reliability Simulator) ermittelt die Qualität eines Halbleiterdesigns
bereits zu Beginn der Entwicklung bzw. vor dem Fertigungsstart.

Das Softwarepaket ESCORT führt Simulationen in der vorläufigen Designstufe
durch und es eliminiert potenzielle Designfehler weit vor Beginn der
Prototypingstufe. Durch den Einsatz der Software verbessert sich die
Qualität bei der Produktion hochwertiger Speicherprodukte und es wird
möglich, die hergestellten Bauteile schneller auf den Markt zu bringen.

Durch optimal definierte Simulationen auf jeder Stufe des
Produktentwicklungszyklus kann Samsungs Softwarepaket ESCORT die
Wafer-Ausbeute beachtlich erhöhen. Die Software SRSIM sagt voraus, wann die
Leistung von Transistoren auf Speicherchips nach einer Serie von
Zeitproblemen möglicherweise abfällt.

Der neue Diagnoseprozess kann nicht nur für Speicherprodukte, sondern auch
für Display-Drive-ICs (DDIs), CMOS-Bildsensoren (CIS) und System-on-Chips
(SoCs) verwendet werden. Mit der ESCORT/SRSIM Diagnosesoftware lassen sich
die Produktionsausbeute verbessern und Maskenkorrekturen einsparen. Somit
kann die Produktentwicklungszeit um mindestens vier Wochen verkürzt werden.
Verzögerungen, die durch Re-Designs verursacht werden, gehören damit der
Vergangenheit an. Mit der ESCORT/SRSIM Diagnosesoftware können Unternehmen
jährlich über 29 Millionen US-Dollar sparen.

Erstmals vorgestellt wurde die ESCORT/SRSIM Diagnosesoftware auf der 2005
DATE (Design Automation and Test in Europe). Die Messe fand im März in
München statt.